Chine Wuhan Precise Instrument Co., Ltd. plan du site

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Unité de mesure de source

Unité de mesure de la source P200B 100V 4A 30A

Unité de mesure de la source d'impulsion de courant élevé HCP100 Max 30A 50V Unité de mesure de la source

300V 4A 30A Pulse SMU Unité P300B Mesure de la source pour les semi-conducteurs et les matériaux

Mètre de source à double canal

Unité DP100B de mesure de la tension / du courant à double canal 30V 30A

Unité de mesure de source à double canal DP200B pour le test BJT

Unité de mesure à double source DP300B SMU pour l'essai des caractéristiques électriques

Équipement d'essai multicanal

100V 1A PXI Unité de mesure de source Carte de sous-canal unique CC SMU Unité CS200

Unité de mesure de la source de courant continu PXI SMU à canal unique 30V 1A

1010C Unité SMU multicanal pour l'essai de la caractérisation des semi-conducteurs et des matériaux

Unité de mesure de la source 1003C

4 canaux instruments nationaux SMU 10V 500mA sous-carte DC source mesure CS401

Énergie à courant élevé

300A 30V alimentation par impulsion haute source de courant HCPL030 pour SiC IGBT GaN HEMT test

1000A 18V de courant élevé source de courant pulsant HCPL100 alimentation programmable

Source d'alimentation haute tension

2200V 100mA Source d'alimentation à haute tension E200 Source d'alimentation à tension constante

3500V/100mA Source d'alimentation haute tension E300 Compteur de source haute tension

Source d'alimentation haute tension de 8000 V 40 mA E800 pour les essais HEMT SiC / IGBT / GaN

Unité de mesure de la source d'alimentation haute tension 1200V 100mA pour l'essai de tension de panne IGBT

Test de l'alimentation au laser

20A CW / 20A QCW Test d'alimentation au laser HCPL002 Énergie au laser à diode haute puissance

HCPL006 Appareil d'alimentation au laser à diode 60A CW/60A QCW Appareil d'alimentation au laser pour les essais

60A CW / 600A QCW Testing Laser Power Supply HCPL060 L'alimentation au laser à diode

Carte d'acquisition de données

Carte d'acquisition de données à grande vitesse SMU 2MS/S Multi Channel Pxi Carte Daq à grande vitesse A400B

1MS/S Carte d'acquisition de données A400 4 canaux Carte Daq à résolution ADC 16 bits

Systèmes d'essai des semi-conducteurs

Systèmes d'essai de semi-conducteurs SPA6100

Système de test C-V pour appareil à semi-conducteurs de 10 Hz à 1 MHz

Système de test de détecteur de courant de 1000 A CTMS Équipement de test de semi-conducteurs

Systèmes d'essai des semi-conducteurs pour le vieillissement au laser LDBI Système d'essai multicanal

Test statique de l'analyseur de puissance de 10 kV/6000A PMST pour les semi-conducteurs Mosfet BJT IGBT SiC GaN

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