1010C Unité SMU multicanal pour l'essai de la caractérisation des semi-conducteurs et des matériaux

Le châssis modulaire 1010C intègre une technologie de pointe avec une ingénierie innovante,fournir une solution d'essai de haute performance adaptée aux exigences diverses des applications modernes de R&D et industriellesCette plateforme hautement adaptable dispose d'une architecture unifiée permettant une adaptation transparente des sous-carte fonctionnelles interchangeables.permettant l'exécution précise de scénarios d'essais complexes à travers la validation des semi-conducteurs, la caractérisation avancée des matériaux et l'étalonnage des capteurs multicanaux.

Caractéristiques du produit

▪Synchronisation multicanal:Configuration flexible des quantités ou des types de sous-carte.

▪Transmission à grande vitesse:La bande passante de 3 Gbps et le bus de déclenchement à 16 canaux assurent une précision de synchronisation au niveau μs.

▪Taille standard:Compatibilité avec les racks standard de 19 pouces pour une intégration économique.

▪La fiabilité industrielle:Écran EMI multicouche et système de refroidissement par air intelligent.

▪Interfaces multi-protocoles:les interfaces GPIB/RS-232/Gigabit Ethernet pour une connectivité transparente;

▪Le commandement de l' SCPI:Activer le contrôle en cascade des appareils multiplateformes.

▪Compatibilité générale:Intégration transparente avec les sous-carte de la série Pusces CS/CBI.

Paramètres du produit

Applications

▪Les composants suivants sont utilisés:Utilisé pour divers essais de semi-conducteurs de puissance représentés par du SiC (carbure de silicium) et du GaN (nitrure de gallium), y compris les essais de tension de rupture et les essais de vieillissement,fournissant un support de données pour la recherche et le développement et l'inspection de la qualité des semi-conducteurs de puissance.

▪Discrètes:Peut effectuer des tests de résistance à la tension sur des appareils discrets tels que des diodes et des transistors, garantissant que les performances de ces appareils répondent aux normes dans différents environnements de tension.

▪Circuits intégrés:Dans les domaines des circuits intégrés et de la microélectronique, il est utilisé pour les tests liés aux puces afin d'assurer la stabilité et la fiabilité des puces dans des environnements à haute tension.

▪Recherche sur les matériaux:Pour l'étude des propriétés électriques des matériaux semi-conducteurs, les caractéristiques des matériaux sont analysées par des fonctions de sortie haute tension et de mesure,contribuer à la recherche et au développement de nouveaux matériaux semi-conducteurs.

▪Les capteurs:Fournit des solutions de test de vérification des performances pour divers capteurs, simule des environnements à haute tension et détecte les performances des capteurs dans des conditions de tension extrêmes.

▪Domaine d'enseignement:Fournit des équipements professionnels pour les laboratoires d'enseignement des circuits intégrés et de la microélectronique,aider les étudiants à apprendre les principes et les méthodes de fonctionnement des tests à haute tension et améliorer leurs capacités pratiques.