Unité SMU PXI 10V 200mA pour les essais à haut débit en environnement parallèle

La sous-carte modulaire CS400 est une unité de mesure de source (SMU) multicanal à haute densité conçue pour des applications de tests parallèles à haut débit.chaque module intègre quatre chaînes indépendantes avec une configuration commune au sol, parfaitement compatible avec les hôtes de la série CS (par exemple, CS1010C).amélioration significative de l'efficacité des essais tout en réduisant les coûts du système pour les environnements de production de masse.

Caractéristiques du produit

▪Opération du Quatrième Quadrant:"Précision" de la tension/du courant (± 300 V, ± 1 A) avec mesure simultanée de la tension/du courant (résolution à 6 1⁄2 chiffres).

▪Les modes multifonctionnels:Prend en charge les fonctions de source de tension / courant, de voltmètre, d'ampère et de charge électronique.

▪Évolutivité à haute densité:Conception à 4 canaux par sous-carte, évolutive à 40 canaux avec un hôte CS1010C pour les essais de dispositifs parallèles.

▪Une grande précision:Réalise une précision de base de ±0,1% sur l'ensemble des gammes dans les modes d'approvisionnement/de coulé.

▪Mesure avancée:Mode de mesure à deux fils/4 fils (Kelvin) pour une précision de faible résistance.

▪Flexibilité du déclencheur:Les signaux de déclenchement d'E/S configurables (côté ascendant/descendant) pour une synchronisation multi-appareils.

Paramètres du produit

Applications

▪ Les composants suivants sont utilisés:Utilisé pour divers essais de semi-conducteurs de puissance représentés par du SiC (carbure de silicium) et du GaN (nitrure de gallium), y compris les essais de tension de rupture et les essais de vieillissement,fournissant un support de données pour la recherche et le développement et l'inspection de la qualité des semi-conducteurs de puissance.

▪Discrètes:Peut effectuer des tests de résistance à la tension sur des appareils discrets tels que des diodes et des transistors, garantissant que les performances de ces appareils répondent aux normes dans différents environnements de tension.

▪ Circuits intégrés:Dans les domaines des circuits intégrés et de la microélectronique, il est utilisé pour les tests liés aux puces afin d'assurer la stabilité et la fiabilité des puces dans des environnements à haute tension.

▪ Recherche sur les matériaux:Pour l'étude des propriétés électriques des matériaux semi-conducteurs, les caractéristiques des matériaux sont analysées par des fonctions de sortie haute tension et de mesure,contribuer à la recherche et au développement de nouveaux matériaux semi-conducteurs.

▪Les capteurs:Fournit des solutions de test de vérification des performances pour divers capteurs, simule des environnements à haute tension et détecte les performances des capteurs dans des conditions de tension extrêmes.

▪Domaine d'enseignement:Fournit des équipements professionnels pour les laboratoires d'enseignement des circuits intégrés et de la microélectronique,aider les étudiants à apprendre les principes et les méthodes de fonctionnement des tests à haute tension et améliorer leurs capacités pratiques.