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Détails des produits

Created with Pixso. À la maison Created with Pixso. Produits Created with Pixso.
Équipement d'essai multicanal
Created with Pixso. Unité de mesure de la source 1003C

Unité de mesure de la source 1003C

Nom De Marque: PRECISE INSTRUMENT
Numéro De Modèle: CS1003C
Nombre De Pièces: 1 Unité
Délai De Livraison: 2 à 8 semaines
Conditions De Paiement: T/T
Informations détaillées
Lieu d'origine:
Chine
Nombre de créneaux:
3 canaux
Interfaces de communication:
Interfaces RS-232, GPIB et Ethernet
les spécifications de l'alimentation:
AC 100-240V, 50/60Hz, puissance maximale 500W
Dimensions (longueur * largeur * hauteur):
552 mm × 482 mm × 178 mm
Détails d'emballage:
Une boîte.
Capacité d'approvisionnement:
500 SET/MONTH
Mettre en évidence:

Connexion de carte de sous-carton à l'unité SMU

,

Unité SMU 3 fentes

,

1003C Unité de mesure de la source

Description du produit

Unité de mesure de la source 1003C

Le châssis modulaire 1003C est une solution d'essai de qualité professionnelle conçue pour des applications hautes performances.il sert d'infrastructure de test critique dans les scénarios de recherche scientifique et de validation industrielleCette plateforme offre un fonctionnement efficace, plug-and-play pour les tâches de test multi-domaines grâce à son architecture configurable.


Caractéristiques du produit

Expansion modulaire: les emplacements multi-sous-carte permettent des combinaisons de modules fonctionnels à la demande.

Fiabilité industrielle: le blindage EMI multicouche et la gestion thermique intelligente assurent un fonctionnement stable dans des environnements difficiles (-40°C à 85°C).

Interconnexion haute vitesse: les interfaces GPIB/Ethernet/USB intégrées permettent d'obtenir une latence de synchronisation de données de < 1 ms.

Compatibilité transparente: intégration plug-and-play avec les sous-carte de la série Pusces CS/CBI pour une configuration rapide en boucle de test.

Synchronisation de précision: la bande passante de 3 Gbps et le bus de déclenchement à 16 canaux offrent une précision de chronométrage multicanal de niveau μs.

 

Paramètres du produit

Les postes

Paramètres

Nombre de fentes

3 chaînes

Interfaces de communication

Le mode CC: 10nA4A/Mode d'impulsion: 10nA30A

Spécifications de l'alimentation

Mode CC:max 40W/Mode impulsionnel:max 400W

Température de l'environnement de fonctionnement

25 ± 10 °C

Dimensions (longueur * largeur * hauteur)

552 mm × 482 mm × 178 mm


Applications

Test des caractéristiques des dispositifs semi-conducteurs discrets, y compris les résistances, les diodes, les diodes électroluminescentes, les diodes Zener, les diodes PIN, les transistors BJT, les MOSFET, les SIC, les GaN et autres dispositifs.

Tests d'énergie et d'efficacité,y compris les LED/AMOLED, les cellules solaires, les convertisseurs CC-DC,etc.

Test des caractéristiques du capteur, y compris la résistivité, l'effet Hall, etc.

Test des caractéristiques des matières organiques, y compris l'encre électronique, la technologie électronique imprimée, etc.

Test des caractéristiques des nanomatériaux, y compris le graphène, les nanofils, etc.



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Détails Des Produits

Created with Pixso. À la maison Created with Pixso. Produits Created with Pixso.
Équipement d'essai multicanal
Created with Pixso. Unité de mesure de la source 1003C

Unité de mesure de la source 1003C

Nom De Marque: PRECISE INSTRUMENT
Numéro De Modèle: CS1003C
Nombre De Pièces: 1 Unité
Détails De L'emballage: Une boîte.
Conditions De Paiement: T/T
Informations détaillées
Lieu d'origine:
Chine
Nom de marque:
PRECISE INSTRUMENT
Numéro de modèle:
CS1003C
Nombre de créneaux:
3 canaux
Interfaces de communication:
Interfaces RS-232, GPIB et Ethernet
les spécifications de l'alimentation:
AC 100-240V, 50/60Hz, puissance maximale 500W
Dimensions (longueur * largeur * hauteur):
552 mm × 482 mm × 178 mm
Quantité de commande min:
1 Unité
Détails d'emballage:
Une boîte.
Délai de livraison:
2 à 8 semaines
Conditions de paiement:
T/T
Capacité d'approvisionnement:
500 SET/MONTH
Mettre en évidence:

Connexion de carte de sous-carton à l'unité SMU

,

Unité SMU 3 fentes

,

1003C Unité de mesure de la source

Description du produit

Unité de mesure de la source 1003C

Le châssis modulaire 1003C est une solution d'essai de qualité professionnelle conçue pour des applications hautes performances.il sert d'infrastructure de test critique dans les scénarios de recherche scientifique et de validation industrielleCette plateforme offre un fonctionnement efficace, plug-and-play pour les tâches de test multi-domaines grâce à son architecture configurable.


Caractéristiques du produit

Expansion modulaire: les emplacements multi-sous-carte permettent des combinaisons de modules fonctionnels à la demande.

Fiabilité industrielle: le blindage EMI multicouche et la gestion thermique intelligente assurent un fonctionnement stable dans des environnements difficiles (-40°C à 85°C).

Interconnexion haute vitesse: les interfaces GPIB/Ethernet/USB intégrées permettent d'obtenir une latence de synchronisation de données de < 1 ms.

Compatibilité transparente: intégration plug-and-play avec les sous-carte de la série Pusces CS/CBI pour une configuration rapide en boucle de test.

Synchronisation de précision: la bande passante de 3 Gbps et le bus de déclenchement à 16 canaux offrent une précision de chronométrage multicanal de niveau μs.

 

Paramètres du produit

Les postes

Paramètres

Nombre de fentes

3 chaînes

Interfaces de communication

Le mode CC: 10nA4A/Mode d'impulsion: 10nA30A

Spécifications de l'alimentation

Mode CC:max 40W/Mode impulsionnel:max 400W

Température de l'environnement de fonctionnement

25 ± 10 °C

Dimensions (longueur * largeur * hauteur)

552 mm × 482 mm × 178 mm


Applications

Test des caractéristiques des dispositifs semi-conducteurs discrets, y compris les résistances, les diodes, les diodes électroluminescentes, les diodes Zener, les diodes PIN, les transistors BJT, les MOSFET, les SIC, les GaN et autres dispositifs.

Tests d'énergie et d'efficacité,y compris les LED/AMOLED, les cellules solaires, les convertisseurs CC-DC,etc.

Test des caractéristiques du capteur, y compris la résistivité, l'effet Hall, etc.

Test des caractéristiques des matières organiques, y compris l'encre électronique, la technologie électronique imprimée, etc.

Test des caractéristiques des nanomatériaux, y compris le graphène, les nanofils, etc.