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| Nom De Marque: | PRECISE INSTRUMENT |
| Numéro De Modèle: | CS200 |
| Nombre De Pièces: | 1 Unité |
| Délai De Livraison: | 2 à 8 semaines |
| Conditions De Paiement: | T/T |
100V 1A PXI Unité de mesure de source Carte de sous-canal unique CC SMU Unité CS200
La sous-carte modulaire CS200 est une unité de mesure de source numérique (SMU) à canal unique de haute précision conçue pour les systèmes hôtes modulaires à plusieurs emplacements.cette sous-carte intègre la tension/courant, des fonctions voltmètre/ampère et des capacités de charge électronique dans un seul module.il permet de mesurer et d'obtenir simultanément le courant/la tension, ce qui le rend idéal pour des tâches de caractérisation électrique complexes telles que l'analyse paramétrique des semi-conducteurs et la validation des dispositifs de puissance.
Caractéristiques du produit
▪Précision:00,1% de précision source/mesure avec une résolution de 51⁄2 chiffres.
▪Régions:La tension est de 300 mV/100 V, le courant est de 100 nA1 A, la puissance maximale est de 30 W.
▪Les modes de fonctionnement:Opération à quatre quadrants pour l'approvisionnement et le chargement électronique.
▪Évolutivité:Compatible avec les hôtes Pusces 1003CS (3 fentes) et 1010CS (10 fentes).
▪Contrôle multicanal:Le bus de déclenchement permet une numérisation synchronisée ou un fonctionnement indépendant entre les sous-cartes.
▪Mode de numérisation:Scanner de courbe IV linéaire, exponentielle et personnalisée pour une caractérisation complexe.
▪Interfaces:RS-232, GPIB et Ethernet pour une intégration transparente dans les systèmes d'essai automatisés.
Paramètres du produit
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Les postes |
Paramètres |
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Nombre de chaînes |
1 chaîne |
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Plage de tension |
300 mV à 100 V |
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Résolution de tension minimale |
30 uV |
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Portée actuelle |
100 nAJe ne sais pas.1A |
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Résolution actuelle minimale |
10 pA |
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Puissance de sortie maximale en ondes continues (CW) |
30 W, mode source ou capteur à 4 quadrants |
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Limites de la source de tension |
±30V (pour la plage ≤1A), ±100V (pour la plage ≤100mA) |
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Limites actuelles de la source |
±1A (pour la plage ≤30V), ±100mA (pour la plage ≤100V) |
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Capacité de charge stable |
< 22 nF |
|
Bruit à large bande (20 MHz) |
2mV RMS (valeur typique), < 20mV Vp-p (valeur typique) |
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Taux maximal d'échantillonnage |
1000 S/s |
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Précision de mesure de la source |
00,10% |
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Les hôtes avec lesquels il est compatible |
1003C,1010C |
Applications
▪Tests de dispositifs à semi-conducteurs:IV caractérisation et analyse paramétrique des dispositifs discrets (diodes, BJT, MOSFET, dispositifs SiC).
▪Évaluation des capteurs, y compris la mesure de la résistivité et l'analyse de l'effet Hall.Matériaux et énergie avancés▪Les technologies suivantesCaractérisation des propriétés électriques des nanomatériaux (graphène, nanofils) et des matériaux organiques (encre électronique).Évaluation de l'efficacité et évaluation du vieillissement des cellules solaires, des LED et des AMOLED.
▪Applications industrielles et de recherche:Systèmes d'essais parallèles multicanaux pour l'essai du cycle de la batterie et la validation de l'efficacité du convertisseur CC-CC.Solutions d'essais à haute densité (par exemple,Tests au niveau des plaquettes) via une collaboration multi-sous-carte pour améliorer le débit.
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| Nom De Marque: | PRECISE INSTRUMENT |
| Numéro De Modèle: | CS200 |
| Nombre De Pièces: | 1 Unité |
| Détails De L'emballage: | Une boîte. |
| Conditions De Paiement: | T/T |
100V 1A PXI Unité de mesure de source Carte de sous-canal unique CC SMU Unité CS200
La sous-carte modulaire CS200 est une unité de mesure de source numérique (SMU) à canal unique de haute précision conçue pour les systèmes hôtes modulaires à plusieurs emplacements.cette sous-carte intègre la tension/courant, des fonctions voltmètre/ampère et des capacités de charge électronique dans un seul module.il permet de mesurer et d'obtenir simultanément le courant/la tension, ce qui le rend idéal pour des tâches de caractérisation électrique complexes telles que l'analyse paramétrique des semi-conducteurs et la validation des dispositifs de puissance.
Caractéristiques du produit
▪Précision:00,1% de précision source/mesure avec une résolution de 51⁄2 chiffres.
▪Régions:La tension est de 300 mV/100 V, le courant est de 100 nA1 A, la puissance maximale est de 30 W.
▪Les modes de fonctionnement:Opération à quatre quadrants pour l'approvisionnement et le chargement électronique.
▪Évolutivité:Compatible avec les hôtes Pusces 1003CS (3 fentes) et 1010CS (10 fentes).
▪Contrôle multicanal:Le bus de déclenchement permet une numérisation synchronisée ou un fonctionnement indépendant entre les sous-cartes.
▪Mode de numérisation:Scanner de courbe IV linéaire, exponentielle et personnalisée pour une caractérisation complexe.
▪Interfaces:RS-232, GPIB et Ethernet pour une intégration transparente dans les systèmes d'essai automatisés.
Paramètres du produit
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Les postes |
Paramètres |
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Nombre de chaînes |
1 chaîne |
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Plage de tension |
300 mV à 100 V |
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Résolution de tension minimale |
30 uV |
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Portée actuelle |
100 nAJe ne sais pas.1A |
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Résolution actuelle minimale |
10 pA |
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Puissance de sortie maximale en ondes continues (CW) |
30 W, mode source ou capteur à 4 quadrants |
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Limites de la source de tension |
±30V (pour la plage ≤1A), ±100V (pour la plage ≤100mA) |
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Limites actuelles de la source |
±1A (pour la plage ≤30V), ±100mA (pour la plage ≤100V) |
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Capacité de charge stable |
< 22 nF |
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Bruit à large bande (20 MHz) |
2mV RMS (valeur typique), < 20mV Vp-p (valeur typique) |
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Taux maximal d'échantillonnage |
1000 S/s |
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Précision de mesure de la source |
00,10% |
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Les hôtes avec lesquels il est compatible |
1003C,1010C |
Applications
▪Tests de dispositifs à semi-conducteurs:IV caractérisation et analyse paramétrique des dispositifs discrets (diodes, BJT, MOSFET, dispositifs SiC).
▪Évaluation des capteurs, y compris la mesure de la résistivité et l'analyse de l'effet Hall.Matériaux et énergie avancés▪Les technologies suivantesCaractérisation des propriétés électriques des nanomatériaux (graphène, nanofils) et des matériaux organiques (encre électronique).Évaluation de l'efficacité et évaluation du vieillissement des cellules solaires, des LED et des AMOLED.
▪Applications industrielles et de recherche:Systèmes d'essais parallèles multicanaux pour l'essai du cycle de la batterie et la validation de l'efficacité du convertisseur CC-CC.Solutions d'essais à haute densité (par exemple,Tests au niveau des plaquettes) via une collaboration multi-sous-carte pour améliorer le débit.
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