La source d'alimentation haute tension E800 pour les essais HEMT SiC/IGBT/GaN est de 8000 V/40 mA.

La source d'alimentation haute tension E800 est dotée d'une tension de sortie et de mesure élevée (8000V) et de la capacité de sortie et de mesure de signaux de courant faible (1nA).d'une tension de sortie et d'une tension de mesure comprise entre 0 et 8000 V et d'une tension de sortie et de mesure comprise entre 0 et 40 mAIl prend en charge les modes de fonctionnement de tension constante et de courant constant, ainsi qu'une grande variété de modes de balayage I-V. L'appareil peut être appliqué dans des scénarios tels que les tests de tension de panne IGBT,Les sources d'alimentation pour vieillissement IGBTLe mode de courant constant est d'une grande importance pour mesurer rapidement les points de panne.

Caractéristiques du produit

▪Réponse au niveau des millisecondes et génération de chaleur faible:Avec des bords de montée et de chute de ms, il réduit considérablement la puissance et le temps du dispositif testé, réduit le problème de production de chaleur et assure un test stable.

▪Émission de haute tension et tests à large portée:La sortie maximale par unité est de 8000V, le courant maximal est de 40mA, et la puissance maximale est de 320W, qui peut être étendue à 10kV.il peut effectuer des essais de courant de fuite au niveau nA sous haute tension.

▪Sortie flexible et numérisation diversifiée:Il prend en charge la tension constante ou la sortie de courant constant, teste la tension et le courant de manière synchrone, et prend en charge la ligne, le logarithme,et la numérisation définie par l'utilisateur pour répondre aux différentes exigences de test.

▪Limitation intelligente du courant, sécurité garantie:La conception limitant la tension et le courant constants empêche efficacement l'explosion du tube, assurant ainsi la sécurité de l'appareil et du processus d'essai.

Paramètres du produit

Applications

▪Épreuve de tension de rupture IGBT:En augmentant progressivement la tension, surveillez les changements de tension et de courant entre le collecteur et l'émetteur de l'IGBT.enregistrer la valeur de tension à ce momentSur cette base, déterminez la tension maximale à laquelle l'IGBT peut résister et évaluez sa performance tension-résistance.

▪L'alimentation électrique de charge du condensateur de bus d'essai dynamique IGBT:Il fournit une énergie électrique de charge stable pour le condensateur de bus dans les tests dynamiques IGBT.le condensateur de bus peut stocker et libérer de l'énergie électrique rapidement et de manière stable, simulant l'environnement électrique dans lequel l'IGBT fonctionne dans des applications pratiques.

▪L'alimentation de vieillissement par IGBT:Dans la phase de test de vieillissement de l'IGBT, une tension et un courant appropriés sont fournis.Cela permet d'identifier à l'avance les problèmes de qualité potentiels, assurant sa fiabilité et sa stabilité en usage réel.

▪Protéger contre la foudre Diode Teste de résistance à la tension:Appliquer une tension progressivement croissante à la diode de protection contre la foudre, observer son état sous différentes tensions, détecter la tension de rupture inverse maximale qu'elle peut supporter,et déterminer si elle répond aux exigences de résistance à la tension dans les applications de protection contre la foudre.

▪Test de résistance à la tension du varistor:Appliquez la tension à travers le varistor et augmentez-la progressivement. Surveillez le changement de courant. Lorsque le courant augmente fortement, déterminez la valeur de tension à ce moment-là.évaluer les performances de résistance à la tension du varistor pour assurer son bon fonctionnement dans le circuit de protection contre la surtension.