Systèmes d'essai de semi-conducteurs SPA6100

L'analyseur de paramètres de semi-conducteurs SPA6100 offre des avantages tels qu'une haute précision, une large plage de mesure, une flexibilité rapide et une forte compatibilité.Ce produit prend en charge les essais simultanés de courant continu-tension (I-V), capacitance-tension (C-V) et caractéristiques I-V pulsées dans des conditions de haut courant/haute tension.

Doté d'une conception structurelle modulaire, il permet aux utilisateurs de sélectionner et de configurer de manière flexible les unités de mesure pour les mises à niveau du système en fonction des exigences d'essai.L'analyseur prend en charge des mesures jusqu'à 1200V de tension, une résolution de courant élevé de 100A et une résolution de courant bas de 1pA, tout en permettant des mesures de capacitance CA multifrequence dans la plage de 10 kHz à 1 MHz.

Équipé d'un logiciel dédié aux tests de paramètres des semi-conducteurs, il prend en charge à la fois le fonctionnement manuel interactif et le fonctionnement automatisé intégré aux stations de sonde.Le système rationalise l'ensemble du flux de travail de la configuration de mesure, l'exécution, l'analyse des résultats à la gestion des données, permettant une caractérisation efficace et reproductible des dispositifs.il est compatible avec les chambres de température et les modules de contrôle thermique pour répondre aux exigences d'essai à haute/basse température.

Caractéristiques du produit

▪30 μV à 1200 V, 1 pA à 100 A, capacité de mesure à large portée
▪Haute précision de mesure, atteignant jusqu'à 0,03% sur toute la plage de mesure
▪Programmes de test de périphériques standard intégrés pour l'invocation directe et les tests simplifiés
▪Fonctions d'extraction automatique de paramètres en temps réel, de traçage de données et d'analyse
▪Transition rapide entre les mesures C-V et I-V sans nécessiter de re-câblage
▪Des solutions de personnalisation de luminaires flexibles avec une forte compatibilité
▪Logiciel gratuit basé sur PC et jeu de commandes SCPI fournis

Paramètres du produit

Applications

▪Nanomatériaux: résistivité, mobilité du support, concentration du support, tension de hall

▪Matériaux flexibles: essai de traction/torsion/flexion, temps de tension (V-t), temps de courant (I-t), temps de résistance (R-t), résistance, sensibilité

▪Les puces IC: test ouvert/short ((O/S), courant d'entrée élevé/faible (IIH/IIL), tension de sortie élevée/faible (VOH/VOL), courbes I/O Pin I-V

▪Les dispositifs discrets:BVDSS,IGSS,IDSS,Vgs ((th),Rdson,Ciss/Coss/Crss (capacité de transfert d'entrée/sortie/inversion), courbes de sortie/transfert/C-V.

▪Photodétecteurs: courant sombre (ID), capacité de jonction (Ct), tension de rupture inverse (VBR), réactivité (R).

▪Les cellules solaires en pérovskite:tension en circuit ouvert (VOC), courant de court-circuit (ISC), puissance maximale (Pmax), tension maximale (Vmax), courant maximal (Imax), facteur de remplissage (FF), efficacité (η),Résistance en série (Rs), Résistance au shunt (Rsh)

▪LD/LED/OLED:Current de fonctionnement (Iop), puissance optique (Popt), tension avant (VF),Les courbes de courant de seuil (Ith), de tension inverse (VR), de courant inverse (IR), de tension de courant lumineux (LIV) et de luminance I-V (IVL)

▪ Sensors/mémristors: Temps de tension (V-t), Temps de courant (I-t), Temps de résistance (R-t),Épreuves I-V en courant continu/impulsion/circulation