Systèmes d'essai des semi-conducteurs pour le vieillissement au laser LDBI Système d'essai multicanal

LDBI multi-channel high-power laser aging system is specifically designed to address the issues of kilowatt-level high-power semiconductor laser chips and pump laser modules that require narrow pulse high current testing and agingElle a développé de manière innovante un système de test de vieillissement polyvalent, à haute puissance et refroidi à l'eau.
Le produit présente d'excellentes caractéristiques de courant constant à impulsion étroite à courant élevé, de courant stable et d'une forte capacité anti-interférence.Il comprend également des circuits de double protection contre les surtensions, de retour EMF et de protection contre les surtensions, fournissant une solution complète pour le test du vieillissement des puces laser semi-conducteurs à haute puissance et des modules laser à pompe.

Caractéristiques du produit

▪Un seul tiroir supporte jusqu'à 16 canaux, maximum 8 tiroirs: chaque tiroir peut accueillir jusqu'à 16 canaux indépendants, avec une capacité totale allant jusqu'à 8 tiroirs.

▪Canaux indépendants: tous les canaux fonctionnent indépendamment, ce qui garantit l'absence d'interférences entre les essais.

▪Lecture de courant et mesures synchronisées: mesure automatiquement la tension, la puissance optique et d'autres paramètres simultanément avec la lecture de courant.

▪Film chauffant et contrôle de la température: utilise un film chauffant pour le contrôle de la température, avec une plage allant de la température ambiante à 125 °C.

▪Énergie résistante aux surtensions: conçue pour résister aux surtensions, assurant un fonctionnement stable.

▪Appareil de collecte de lumière refroidi à l'eau: équipé d'un refroidissement à l'eau pour gérer la chaleur générée pendant le fonctionnement.

▪Précision de température élevée: Précision absolue de température de ±1°C, avec une uniformité de température de ±2°C entre différents DUT (appareils soumis à l'essai).

▪Enregistrement et exportation automatique des données sur le vieillissement: enregistre automatiquement les données de test sur le vieillissement et prend en charge l'exportation de données pour l'analyse.

Paramètres du produit

Applications

Épreuves de dispositifs de puissance à semi-conducteurs

▪Mesure avec précision les paramètres statiques des dispositifs d'alimentation tels que le MOSFET, le BJT, l'IGBT, le SiC (carbure de silicium) et le GaN (nitrure de gallium), y compris la tension de rupture, le courant de fuite, la résistance d'allumage,tension de seuil, la capacité de jonction, etc.

▪Prend en charge les exigences de test à haute tension, à courant élevé et à haute précision pour les semi-conducteurs de troisième génération (par exemple, SiC, GaN).

Recherche sur les propriétés électriques des matériaux semi-conducteurs

▪Fournit des tests de paramètres de performance électrique pour les matériaux semi-conducteurs (par exemple, variation du courant, de la tension, de la résistance), en appui à la R&D des matériaux et à la validation des procédés.

Test des composants électroniques de puissance des véhicules à énergie nouvelle

▪Se concentre sur les tests de paramètres statiques des dispositifs IGBT et SiC de qualité automobile, répondant aux exigences de test à haute tension et à courant élevé dans les architectures 800V.Couvre les applications de base telles que les onduleurs principaux et les piles de charge.

Tests et contrôle de qualité sur les lignes de production d'automatisation industrielle

▪Permet des tests de bout en bout des laboratoires aux lignes de production de masse, y compris des tests de paramètres statiques automatisés pour les plaquettes, puces, appareils et modules.Compatible avec les systèmes de production semi-automatiques (PMST-MP) et entièrement automatisés (PMST-AP).

Institution académique et de recherche Enseignement et expériences

▪Utilisé pour des expériences de caractéristiques physiques dans les circuits intégrés et les appareils électriques, couvrant des cours tels que les principes des appareils semi-conducteurs et l'électronique analogique.Facilite le développement de centres de pratique de test de puces.