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Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.

Qualité Unité de mesure de source, Mètre de source à double canal fabricant chinois

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Systèmes d'essai des semi-conducteurs

Unité de mesure de source

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Source d'alimentation haute tension

Énergie à courant élevé

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L'alimentation électrique à impulsion de courant élevé 300A/30V HCPL030 pour l'essai HEMT SiC/IGBT/GaN

February 25, 2025

Test de l'alimentation au laser

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February 17, 2025

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Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.

Qualité Unité de mesure de source, Mètre de source à double canal fabricant chinois

Système de vieillissement laser à haute puissance multicanal LDBI

Système d'essai du capteur de courant de 1000 A CTMS

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Analyseur de paramètres de semi-conducteurs de 1200V/100A SPA6100

2 MS/s Carte d'acquisition de données multicanal A400B

L'alimentation électrique à impulsion de courant élevé 1000A/18V HCPL100 pour l'essai HEMT SiC/IGBT/GaN

S300 Unité de mesure de la source de courant continu 300V/1A pour l'essai des caractéristiques électriques

Unité de mesure de la source de courant continu S300B

30V/1A/10A Épreuves de semi-conducteurs Opération à quatre quadrants Pulse source Mètre P100

Mètre de source d'impulsion de 100 V/1A/10A P200 pour la caractérisation des semi-conducteurs

300V/1A/10A Épreuve des semi-conducteurs Opération à quatre quadrants Pulse source Mètre P300

Unité de mesure de la source d'impulsion P300B de 300V/4A/30A pour les semi-conducteurs et matériaux

10V/500mA Unité de mesure de la source d'impulsion par carte de sous-carte à quatre canaux CBI401

10V/500mA Subcarte DC à quatre canaux Unité de mesure de la source CS401

10V/1A Unité de mesure de la source d'impulsion de carte de sous-carte à quatre canaux CBI402

Unité de mesure de la source d'impulsion de la sous-carte à quatre canaux 18V/1A CBI403

Unité de mesure 1003C à sous-carte à 3 emplacements avec fiabilité et évolutivité de qualité industrielle

Unité de mesure de la source CC à sous-carte à canal unique de 30V/1A CS100

Unité de mesure de la source de courant continu à sous-carte à canal unique de 100 V/1 A CS200

Unité de mesure de la source de courant continu à sous-carte à canal unique de 300V/1A CS300

Mètre de source à double canal de 300 V/30 A DP300B pour différents essais de caractéristiques électriques

Mètre de source à double canal DP200B de 100 V/30 A pour l'essai BJT

Mètre de source à double canal DP100B de 30 V/30 A avec mesure de tension/courant et fonctionnement en quatre quadrants

3500V/100mA Source d'alimentation haute tension E300

8 000 V/40 mA Source d'alimentation haute tension E800

2200V/100mA Source d'alimentation haute tension E200

Source d'alimentation haute tension de 1200 V/100 mA pour l'essai de tension de panne IGBT

L'alimentation électrique à impulsion de courant élevé 300A/30V HCPL030 pour l'essai HEMT SiC/IGBT/GaN

60A CW/600A QCW Test de puissance élevée

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20A CW/20A QCW Épreuve de puissance élevée

Instrument précis Source d'exploration cohérence interne et externe