Chaîne vidéo de Chine Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Contactez nous
À la maison Vidéos Liste de lecture Site web

Unité de mesure de la source d'impulsion de la sous-carte à quatre canaux 18V/1A CBI403

Équipement d'essai multicanal
February 24, 2025
Keyword: Équipement d'essai multicanal
Contactez nous
Les étiquettes:
#Unité Smu #pxi SMU #Unité de mesure de la source PXI
Video Description:
Discover the 18V 1A Four Channel Sub Card Pulse Source Measure Unit CBI403 SMU Measurement, a high-precision modular solution for electrical characterization. Ideal for semiconductor testing, nanomaterials, and energy efficiency validation, it offers four-quadrant operation and flexible integration with host systems.
Vidéos connexes
10V/500mA Unité de mesure de la source d'impulsion par carte de sous-carte à quatre canaux CBI401 00:24

10V/500mA Unité de mesure de la source d'impulsion par carte de sous-carte à quatre canaux CBI401
Équipement d'essai multicanal
February 24, 2025
10V/1A Unité de mesure de la source d'impulsion de carte de sous-carte à quatre canaux CBI402 00:24

10V/1A Unité de mesure de la source d'impulsion de carte de sous-carte à quatre canaux CBI402
Équipement d'essai multicanal
February 24, 2025
Analyseur de paramètres de semi-conducteurs de 1200V/100A SPA6100 00:36

Analyseur de paramètres de semi-conducteurs de 1200V/100A SPA6100
Systèmes d'essai des semi-conducteurs
February 25, 2025
Système d'essai du capteur de courant de 1000 A CTMS 00:24

Système d'essai du capteur de courant de 1000 A CTMS
Systèmes d'essai des semi-conducteurs
February 25, 2025
S300 Unité de mesure de la source de courant continu 300V/1A pour l'essai des caractéristiques électriques 00:24

S300 Unité de mesure de la source de courant continu 300V/1A pour l'essai des caractéristiques électriques
Unité de mesure de source
February 24, 2025
Source d'alimentation haute tension de 1200 V/100 mA pour l'essai de tension de panne IGBT 00:24

Source d'alimentation haute tension de 1200 V/100 mA pour l'essai de tension de panne IGBT
Source d'alimentation haute tension
February 24, 2025
L'alimentation électrique à impulsion de courant élevé 1000A/18V HCPL100 pour l'essai HEMT SiC/IGBT/GaN 00:24

L'alimentation électrique à impulsion de courant élevé 1000A/18V HCPL100 pour l'essai HEMT SiC/IGBT/GaN
Unité de mesure de source
February 24, 2025
Système de test statique de l'analyseur de puissance 10kV/6000A PMST pour les semi-conducteurs MOSFET BJT IGBT et SiC GaN 00:30

Système de test statique de l'analyseur de puissance 10kV/6000A PMST pour les semi-conducteurs MOSFET BJT IGBT et SiC GaN
Systèmes d'essai des semi-conducteurs
February 25, 2025
Mètre de source à double canal DP100B de 30 V/30 A avec mesure de tension/courant et fonctionnement en quatre quadrants 00:24

Mètre de source à double canal DP100B de 30 V/30 A avec mesure de tension/courant et fonctionnement en quatre quadrants
Mètre de source à double canal
February 24, 2025
Mètre de source d'impulsion de 100 V/1A/10A P200 pour la caractérisation des semi-conducteurs 00:24

Mètre de source d'impulsion de 100 V/1A/10A P200 pour la caractérisation des semi-conducteurs
Unité de mesure de source
February 24, 2025