Chaîne vidéo de Chine Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Bavarder Contactez nous
À la maison Vidéos Liste de lecture Website

10V/500mA Subcarte DC à quatre canaux Unité de mesure de la source CS401

Équipement d'essai multicanal
February 24, 2025
Category Connection: Équipement d'essai multicanal
Bavarder Contactez nous
Introduction de CS401, une unité de mesure de la source de courant continu à sous-carte à 4 canaux avec une plage de tension de 1 à 10 V, une plage de courant de 5 uA à 500 mA et un taux d'échantillonnage maximal de 1000 S/s,offrant une mesure et un contrôle de haute précision pour diverses applications, y compris les essais de dispositifs semi-conducteurs et l'évaluation des dispositifs énergétiques, bienvenue sur notre site Web!
Les étiquettes:
#Unité Smu #pxi SMU #Unité de mesure de la source PXI
Vidéos connexes
10V/500mA Unité de mesure de la source d'impulsion par carte de sous-carte à quatre canaux CBI401 00:24

10V/500mA Unité de mesure de la source d'impulsion par carte de sous-carte à quatre canaux CBI401
Équipement d'essai multicanal
February 24, 2025
10V/1A Unité de mesure de la source d'impulsion de carte de sous-carte à quatre canaux CBI402 00:24

10V/1A Unité de mesure de la source d'impulsion de carte de sous-carte à quatre canaux CBI402
Équipement d'essai multicanal
February 24, 2025
Système de test statique de l'analyseur de puissance 10kV/6000A PMST pour les semi-conducteurs MOSFET BJT IGBT et SiC GaN 00:30

Système de test statique de l'analyseur de puissance 10kV/6000A PMST pour les semi-conducteurs MOSFET BJT IGBT et SiC GaN
Systèmes d'essai des semi-conducteurs
February 26, 2025
Système de vieillissement laser à haute puissance multicanal LDBI 00:34

Système de vieillissement laser à haute puissance multicanal LDBI
Systèmes d'essai des semi-conducteurs
February 26, 2025
L'alimentation électrique à impulsion de courant élevé 1000A/18V HCPL100 pour l'essai HEMT SiC/IGBT/GaN 00:24

L'alimentation électrique à impulsion de courant élevé 1000A/18V HCPL100 pour l'essai HEMT SiC/IGBT/GaN
Unité de mesure de source
February 25, 2025
Instrument précis Source d'exploration cohérence interne et externe 01:24

Instrument précis Source d'exploration cohérence interne et externe
Autres vidéos
February 17, 2025
Analyseur de paramètres de semi-conducteurs de 1200V/100A SPA6100 00:36

Analyseur de paramètres de semi-conducteurs de 1200V/100A SPA6100
Systèmes d'essai des semi-conducteurs
February 26, 2025
2 MS/s Carte d'acquisition de données multicanal A400B 00:27

2 MS/s Carte d'acquisition de données multicanal A400B
Unité de mesure de source
February 26, 2025
3500V/100mA Source d'alimentation haute tension E300 00:24

3500V/100mA Source d'alimentation haute tension E300
Source d'alimentation haute tension
February 25, 2025
Carte d'acquisition de données A400 avec résolution ADC de 16 bits et taux d'échantillonnage de 1 ms/s 00:24

Carte d'acquisition de données A400 avec résolution ADC de 16 bits et taux d'échantillonnage de 1 ms/s
Carte d'acquisition de données
February 26, 2025