Chaîne vidéo de Chine Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Bavarder Contactez nous
À la maison Vidéos Liste de lecture Website

8 000 V/40 mA Source d'alimentation haute tension E800

Source d'alimentation haute tension
February 25, 2025
Category Connection: Source d'alimentation haute tension
Bavarder Contactez nous
, avec une réponse de niveau milliseconde et une faible production de chaleur, une sortie haute tension et des tests à large portée, une sortie flexible et un balayage diversifié, et une limitation intelligente du courant pour la sécurité.Idéal pour les tests de tension de panne IGBT, les sources d'alimentation vieillissantes IGBT, les diodes de protection contre la foudre résistent aux tests de tension et les varistors résistent aux tests de tension. Bienvenue sur notre site Web!
Les étiquettes:
#source d'alimentation à tension constante #source de courant constant #source d'alimentation par tension
Vidéos connexes
3500V/100mA Source d'alimentation haute tension E300 00:24

3500V/100mA Source d'alimentation haute tension E300
Source d'alimentation haute tension
February 25, 2025
2200V/100mA Source d'alimentation haute tension E200 00:27

2200V/100mA Source d'alimentation haute tension E200
Source d'alimentation haute tension
February 25, 2025
Carte d'acquisition de données A400 avec résolution ADC de 16 bits et taux d'échantillonnage de 1 ms/s 00:24

Carte d'acquisition de données A400 avec résolution ADC de 16 bits et taux d'échantillonnage de 1 ms/s
Carte d'acquisition de données
February 26, 2025
Système de test statique de l'analyseur de puissance 10kV/6000A PMST pour les semi-conducteurs MOSFET BJT IGBT et SiC GaN 00:30

Système de test statique de l'analyseur de puissance 10kV/6000A PMST pour les semi-conducteurs MOSFET BJT IGBT et SiC GaN
Systèmes d'essai des semi-conducteurs
February 26, 2025
Système de vieillissement laser à haute puissance multicanal LDBI 00:34

Système de vieillissement laser à haute puissance multicanal LDBI
Systèmes d'essai des semi-conducteurs
February 26, 2025
L'alimentation électrique à impulsion de courant élevé 1000A/18V HCPL100 pour l'essai HEMT SiC/IGBT/GaN 00:24

L'alimentation électrique à impulsion de courant élevé 1000A/18V HCPL100 pour l'essai HEMT SiC/IGBT/GaN
Unité de mesure de source
February 25, 2025
Unité de mesure de la source d'impulsion de la sous-carte à quatre canaux 18V/1A CBI403 00:28

Unité de mesure de la source d'impulsion de la sous-carte à quatre canaux 18V/1A CBI403
Équipement d'essai multicanal
February 24, 2025
Instrument précis Source d'exploration cohérence interne et externe 01:24

Instrument précis Source d'exploration cohérence interne et externe
Autres vidéos
February 17, 2025
Analyseur de paramètres de semi-conducteurs de 1200V/100A SPA6100 00:36

Analyseur de paramètres de semi-conducteurs de 1200V/100A SPA6100
Systèmes d'essai des semi-conducteurs
February 26, 2025
2 MS/s Carte d'acquisition de données multicanal A400B 00:27

2 MS/s Carte d'acquisition de données multicanal A400B
Unité de mesure de source
February 26, 2025