Chaîne vidéo de Chine Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Contactez nous
À la maison Vidéos Liste de lecture Site web

Unité de mesure 1003C à sous-carte à 3 emplacements avec fiabilité et évolutivité de qualité industrielle

Équipement d'essai multicanal
February 24, 2025
Keyword: Équipement d'essai multicanal
Contactez nous
Les étiquettes:
#Unité Smu #pxi SMU #Unité de mesure de la source PXI
Video Description:
Discover the 3-Slots Sub Cards Plug-in Source Measure Unit 1003C, a professional-grade testing solution designed for high-performance applications. With modular scalability and industrial-grade reliability, it's perfect for scientific research and industrial validation. Experience efficient, plug-and-play operation for multi-domain testing tasks.
Vidéos connexes
10V/500mA Unité de mesure de la source d'impulsion par carte de sous-carte à quatre canaux CBI401 00:24

10V/500mA Unité de mesure de la source d'impulsion par carte de sous-carte à quatre canaux CBI401
Équipement d'essai multicanal
February 25, 2025
10V/500mA Subcarte DC à quatre canaux Unité de mesure de la source CS401 00:26

10V/500mA Subcarte DC à quatre canaux Unité de mesure de la source CS401
Équipement d'essai multicanal
February 24, 2025
10V/1A Unité de mesure de la source d'impulsion de carte de sous-carte à quatre canaux CBI402 00:24

10V/1A Unité de mesure de la source d'impulsion de carte de sous-carte à quatre canaux CBI402
Équipement d'essai multicanal
February 24, 2025
60A CW/600A QCW Test de puissance élevée 00:24

60A CW/600A QCW Test de puissance élevée
Test de l'alimentation au laser
February 25, 2025
Mètre de source d'impulsion de 100 V/1A/10A P200 pour la caractérisation des semi-conducteurs 00:24

Mètre de source d'impulsion de 100 V/1A/10A P200 pour la caractérisation des semi-conducteurs
Unité de mesure de source
February 24, 2025
Unité de mesure de la source d'impulsion de courant élevé HCP100 avec courant de sortie d'impulsion maximal 30A et tension de sortie maximale 50V 00:24

Unité de mesure de la source d'impulsion de courant élevé HCP100 avec courant de sortie d'impulsion maximal 30A et tension de sortie maximale 50V
Unité de mesure de source
February 24, 2025
20A CW/20A QCW Épreuve de puissance élevée 00:24

20A CW/20A QCW Épreuve de puissance élevée
Test de l'alimentation au laser
February 25, 2025
Analyseur de paramètres de semi-conducteurs de 1200V/100A SPA6100 00:36

Analyseur de paramètres de semi-conducteurs de 1200V/100A SPA6100
Systèmes d'essai des semi-conducteurs
February 26, 2025
L'alimentation électrique à impulsion de courant élevé 300A/30V HCPL030 pour l'essai HEMT SiC/IGBT/GaN 00:24

L'alimentation électrique à impulsion de courant élevé 300A/30V HCPL030 pour l'essai HEMT SiC/IGBT/GaN
Énergie à courant élevé
February 25, 2025
Système de test statique de l'analyseur de puissance 10kV/6000A PMST pour les semi-conducteurs MOSFET BJT IGBT et SiC GaN 00:30

Système de test statique de l'analyseur de puissance 10kV/6000A PMST pour les semi-conducteurs MOSFET BJT IGBT et SiC GaN
Systèmes d'essai des semi-conducteurs
February 26, 2025