Unité de mesure de la source d'impulsion de 18V 1A à quatre canaux sous carte CBI403 SMU

La sous-carte modulaire CBI401 est un membre de la famille des unités de mesure de source (SMU) de la série CS, conçue pour une caractérisation électrique de haute précision et d'une large plage dynamique.Son architecture modulaire permet une intégration flexible avec les systèmes hôtes 1003CS (3 emplacements) et 1010CS (10 emplacements)Lorsqu'il est combiné avec l'hôte 1010CS, les utilisateurs peuvent configurer jusqu'à 40 canaux synchronisés,améliorer considérablement le débit d'essai pour des applications telles que la validation au niveau des plaquettes de semi-conducteurs et les essais parallèles de contrainte multi-appareils.

Caractéristiques du produit

▪L'approvisionnement et la mesure de haute précision:0une précision de 0,1% avec une résolution de 51⁄2 chiffres sur toutes les gammes de tension/courant.

▪Opération du Quatrième Quadrant:Prend en charge les modes d'approvisionnement/d'enfoncement (±10V, ±1A) pour le profilage dynamique des appareils.

▪Mode de test double:Opération par impulsions et par courant continu pour une caractérisation flexible des comportements transitoires et à l'état stable.

▪Densité élevée des canaux:4 canaux par sous-carte avec une architecture partagée au sol, permettant des configurations de test parallèles denses.

▪Bus de déclenchement configurable:Synchronisation multi-sous-carte via des signaux de déclenchement programmables pour des flux de travail coordonnés sur plusieurs appareils.

▪Mode de numérisation avancé:Protocoles de numérisation linéaires, exponentiels et de courbe IV définis par l'utilisateur.

▪Connectivité multiprotocole:Interfaces RS-232, GPIB et Ethernet pour une intégration transparente dans les systèmes d'essai automatisés.

▪Modularité efficace en termes d'espace:La conception de hauteur 1U optimise l'utilisation de l'espace de rack tout en prenant en charge l'expansion de canal évolutive.

Paramètres du produit

Applications

▪Caractérisation des nanomatériaux:Test des propriétés électriques du graphène, des nanofils et d'autres nanomatériaux, fournissant des données critiques pour faire progresser la R & D et les applications des matériaux.

▪Analyse de la matière organique:Caractérisation électrique de l'encre électronique et de l'électronique imprimée, en faveur de l'innovation dans les technologies électroniques organiques.

▪Tests d'énergie et d'efficacité:Optimisation des performances et validation de l'efficacité pour les LED/AMOLED, les cellules solaires, les batteries et les convertisseurs CC-CC.

▪Tests discrets sur les semi-conducteurs:Caractérisation électrique complète des résistances, des diodes (Zener, PIN), des BJT, des MOSFET et des dispositifs SiC pour assurer la conformité aux normes de qualité.

▪Évaluation du capteur:Tests de résistance et d'effet Hall pour la R&D, la production et le contrôle de la qualité des capteurs.

▪Vieillissement au laser à faible puissance:Test de fiabilité à long terme des VCSEL et des lasers papillons, surveillance de la dégradation des performances pour évaluer la durée de vie et la stabilité opérationnelle.