Chaîne vidéo de Chine Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Contactez nous
À la maison Vidéos Liste de lecture Site web

10V/500mA Subcarte DC à quatre canaux Unité de mesure de la source CS401

Unité de mesure de source
February 24, 2025
Contactez nous
Video Description:
Notre équipe vous explique comment l'unité de mesure de source CC à quatre canaux CS401 fonctionne dans des scénarios de test de semi-conducteurs courants. Dans cette vidéo, vous verrez une démonstration détaillée de ses capacités 10 V/500 mA, en apprendrez davantage sur son intégration dans les systèmes de test et découvrirez comment cet instrument de précision fournit des mesures précises de performances électriques pour les matériaux semi-conducteurs, les plaquettes et les dispositifs.
Vidéos connexes
2 MS/s Carte d'acquisition de données multicanal A400B 00:27

2 MS/s Carte d'acquisition de données multicanal A400B
Unité de mesure de source
February 26, 2025
L'alimentation électrique à impulsion de courant élevé 1000A/18V HCPL100 pour l'essai HEMT SiC/IGBT/GaN 00:24

L'alimentation électrique à impulsion de courant élevé 1000A/18V HCPL100 pour l'essai HEMT SiC/IGBT/GaN
Unité de mesure de source
February 25, 2025
S300 Unité de mesure de la source de courant continu 300V/1A pour l'essai des caractéristiques électriques 00:24

S300 Unité de mesure de la source de courant continu 300V/1A pour l'essai des caractéristiques électriques
Unité de mesure de source
February 24, 2025
60A CW/600A QCW Test de puissance élevée 00:24

60A CW/600A QCW Test de puissance élevée
Test de l'alimentation au laser
February 25, 2025
Unité de mesure de la source de courant continu à sous-carte à canal unique de 300V/1A CS300 00:24

Unité de mesure de la source de courant continu à sous-carte à canal unique de 300V/1A CS300
Équipement d'essai multicanal
February 24, 2025
10V/1A Unité de mesure de la source d'impulsion de carte de sous-carte à quatre canaux CBI402 00:24

10V/1A Unité de mesure de la source d'impulsion de carte de sous-carte à quatre canaux CBI402
Équipement d'essai multicanal
February 24, 2025
Unité de mesure de la source de courant continu à sous-carte à canal unique de 100 V/1 A CS200 00:24

Unité de mesure de la source de courant continu à sous-carte à canal unique de 100 V/1 A CS200
Équipement d'essai multicanal
February 24, 2025
20A CW/20A QCW Épreuve de puissance élevée 00:24

20A CW/20A QCW Épreuve de puissance élevée
Test de l'alimentation au laser
February 25, 2025
Analyseur de paramètres de semi-conducteurs de 1200V/100A SPA6100 00:36

Analyseur de paramètres de semi-conducteurs de 1200V/100A SPA6100
Systèmes d'essai des semi-conducteurs
February 26, 2025
L'alimentation électrique à impulsion de courant élevé 300A/30V HCPL030 pour l'essai HEMT SiC/IGBT/GaN 00:24

L'alimentation électrique à impulsion de courant élevé 300A/30V HCPL030 pour l'essai HEMT SiC/IGBT/GaN
Énergie à courant élevé
February 25, 2025