Chaîne vidéo de Chine Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Bavarder Contactez nous
À la maison Vidéos Liste de lecture Website

Test des caractéristiques électriques des semi-conducteurs de 30 V/1 A Unité de mesure de la source en courant continu S100

Unité de mesure de source
February 24, 2025
Category Connection: Unité de mesure de source
Bavarder Contactez nous
Présentation de la S100, une unité de mesure de la source de courant continu de 30V/1A pour le test des caractéristiques électriques des semi-conducteurs, offrant une haute précision, une large plage dynamique et une conception numérique innovante,avec des caractéristiques telles que l'assurance de la précision des mesures, fonctionnalité tout-en-un, haute résolution, fonctionnement à quatre quadrants, et riches interfaces pour une intégration facile, parfaite pour les tests de semi-conducteurs, la recherche de matériaux, les tests de composants électroniques,recherche et éducation, et des systèmes de test automatisés, bienvenue sur notre site!
Les étiquettes:
#unité de mesure de la source #Unité de mesure de la source #Unité de mesure de la source de précision
Vidéos connexes
2 MS/s Carte d'acquisition de données multicanal A400B 00:27

2 MS/s Carte d'acquisition de données multicanal A400B
Unité de mesure de source
February 26, 2025
L'alimentation électrique à impulsion de courant élevé 1000A/18V HCPL100 pour l'essai HEMT SiC/IGBT/GaN 00:24

L'alimentation électrique à impulsion de courant élevé 1000A/18V HCPL100 pour l'essai HEMT SiC/IGBT/GaN
Unité de mesure de source
February 25, 2025
S300 Unité de mesure de la source de courant continu 300V/1A pour l'essai des caractéristiques électriques 00:24

S300 Unité de mesure de la source de courant continu 300V/1A pour l'essai des caractéristiques électriques
Unité de mesure de source
February 24, 2025
Carte d'acquisition de données A400 avec résolution ADC de 16 bits et taux d'échantillonnage de 1 ms/s 00:24

Carte d'acquisition de données A400 avec résolution ADC de 16 bits et taux d'échantillonnage de 1 ms/s
Carte d'acquisition de données
February 26, 2025
Système de test statique de l'analyseur de puissance 10kV/6000A PMST pour les semi-conducteurs MOSFET BJT IGBT et SiC GaN 00:30

Système de test statique de l'analyseur de puissance 10kV/6000A PMST pour les semi-conducteurs MOSFET BJT IGBT et SiC GaN
Systèmes d'essai des semi-conducteurs
February 26, 2025
Système de vieillissement laser à haute puissance multicanal LDBI 00:34

Système de vieillissement laser à haute puissance multicanal LDBI
Systèmes d'essai des semi-conducteurs
February 26, 2025
Unité de mesure de la source d'impulsion de la sous-carte à quatre canaux 18V/1A CBI403 00:28

Unité de mesure de la source d'impulsion de la sous-carte à quatre canaux 18V/1A CBI403
Équipement d'essai multicanal
February 24, 2025
Instrument précis Source d'exploration cohérence interne et externe 01:24

Instrument précis Source d'exploration cohérence interne et externe
Autres vidéos
February 17, 2025
Analyseur de paramètres de semi-conducteurs de 1200V/100A SPA6100 00:36

Analyseur de paramètres de semi-conducteurs de 1200V/100A SPA6100
Systèmes d'essai des semi-conducteurs
February 26, 2025
10V/1A Unité de mesure de la source d'impulsion de carte de sous-carte à quatre canaux CBI402 00:24

10V/1A Unité de mesure de la source d'impulsion de carte de sous-carte à quatre canaux CBI402
Équipement d'essai multicanal
February 24, 2025