Mètre de source d'impulsion P300 300V 1A 10A Unité de mesure de la source Épreuve des semi-conducteurs

Le P300 Benchtop Pulse SourceMeter combine une architecture électronique avancée et des algorithmes pour fournir une mesure de haute précision et une sortie à large plage dynamique.Disposant d'un écran tactile de 5 pouces avec une interface entièrement graphiqueAvec une sortie maximale de 300 V et 10 A de courant pulsé, ainsi qu'un fonctionnement en quatre quadrants,Le P300 simule avec précision des conditions électriques complexes, de l'alimentation avant à la récupération d'énergie inverse.Il est donc indispensable pour la caractérisation des semi-conducteurs modernes, des nanomatériaux, de l'électronique organique, de l'électronique imprimée et d'autres dispositifs à faible puissance et à petite échelle.

Caractéristiques du produit

▪Une précision et une portée dynamiques inégalées:Les convertisseurs AD/DA de haute précision et les algorithmes de traitement du signal captent les variations de courant de 1 pA et stabilisent les sorties pulsées de 10 A, assurant des marges d'erreur minimales.

▪Opération intuitive:L'écran tactile de 5 pouces et l'interface utilisateur conviviale simplifient les configurations complexes, permettant même aux novices d'exécuter des tests avancés avec un minimum de formation.

▪Plage d'essai complète:Il couvre 1pA1A CC, 10A courant pulsé et 0V 300V, prenant en charge tout, des capteurs de faible puissance aux modules de puissance haute tension.

▪Contrôle du pouls ultra-stableRéalise une largeur d'impulsion minimale de 200 μs avec un circuit d'horloge de précision et un contrôle de rétroaction, idéal pour les essais de semi-conducteurs à grande vitesse et de dispositifs RF.

▪Flexibilité dans les quatre quadrants:Les modes source/évier simulent des scénarios du monde réel, y compris la récolte d'énergie et le flux de courant bidirectionnel, pour une émulation environnementale précise.

▪Scanner personnalisable:Les balayages linéaires, logarithmiques et définis par l'utilisateur optimisent les tests de paramètres pour les appareils ou matériaux non linéaires.

▪Gestion intelligente des données:Le stockage USB et la génération de rapports en un clic simplifient l'analyse des données, tandis que le logiciel intégré génère des graphiques et des résumés professionnels.

▪Intégration transparente:Les interfaces RS-232, GPIB et LAN permettent l'intégration du système ATE et la télécommande pour l'automatisation industrielle.

Paramètres du produit

Applications

▪R&D et production de semi-conducteurs:Test de résistances, de diodes et de transistors pour optimiser les performances. Valider les appareils SiC et GaN dans des conditions de haute tension / courant élevé pour accélérer l'électronique de puissance de nouvelle génération.

▪Technologie énergétique et d'affichage:Évaluer l'efficacité des cellules solaires et les cycles de charge/décharge des batteries pour les solutions de stockage d'énergie

▪Validation du capteur:Assurer la fiabilité des capteurs d'effet Hall, de température et de pression pour les applications d'automatisation IoT, automobile et industrielle.

▪Recherche sur les matériaux avancés:Caractériser l'encre électronique pour les écrans flexibles et la conductivité du graphène/nanofils pour les percées dans les nanotechnologies et les appareils électroniques portables.